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用于诊断激光等离子体X 射线的椭圆弯晶谱仪

  来源:互联网  发布时间:11-16

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核心提示:  摘要:研制了一种新型的双通道椭圆弯晶谱仪,椭圆的离心率和焦距分别为 0.9586 和 1350mm。利用晶体作色散元件,布拉格角为

  摘要:研制了一种新型的双通道椭圆弯晶谱仪,椭圆的离心率和焦距分别为 0.9586 和 1350mm。利用晶体作色散元件,布拉格角为 30°~67.5°,谱线探测角为 55.4°~134°。在两个通道上用 CCD和条纹相机同时测量 × 射线的空间和时间分辨光谱。在“神光Ⅱ”激光装置上进行了首次摄谱实实验,实验结果表明该谱仪的光谱分辨力为 0.002nm。

  引 言

  激光惯性约束聚变(ICF)产生大量的高温高密度等离子体,从中辐射出大量的 × 射线,通过 × 射线诊断来获得等离子体的状态,如电子的温度和密度、膨胀速度、离化度等[1-4]。以前一般用光栅谱仪来诊断激光等离子体 X 射线,为了提高光栅的反射率而采用掠入射形式,这极大地降低了谱仪的接收效率,而且只能获得一维空间分辨的 × 射线光谱,测量的波长范围是 2 nm~30nm,而晶体谱仪在测波长范围为 0.1nm~2nm 的 × 射线方面应用较广[5-7]。我们研制的国内第一台双通道椭圆弯晶谱仪(以下简称“弯晶谱仪”)可以诊断 0.2 nm~2nm 的激光等离子体 X 射线,覆盖的布拉格角是 30°~67.5°。该谱仪是将分光晶体弯曲成椭圆形,这样可以将 × 射线在空间上展开得更宽,从而获得比平晶谱仪更高的空间分辨力。除了在上通道用× 射线 CCD 相机作空间分辨测量外,还在下通道用 × 射线条纹相机作时间分辨测量,从而同时获得× 射线的空间和时间分辨特性[8]。

  1 弯晶谱仪的结构

  弯晶谱仪的结构如图1。激光打靶产生的× 射线源位于真空靶室的球心上,即位于两个椭圆的同一个前焦点上,来自前焦点的× 射线经椭圆晶体衍射后聚焦于后焦点,在上通道椭圆后焦点的上方用× 射线CCD相机进行空间分辨测量;在下通道椭圆后焦点的下方用× 射线条纹相机进行时间分辨测量。两个椭圆的后焦点处各有一个可调宽度的狭缝,在狭缝前面安放滤光膜来截止 2nm 以上的× 射线并挡住杂散光。在弯晶谱仪的设计中,椭圆的离心率为 0.9586,椭圆的焦距(即靶到狭缝的距离)为 1350mm,椭圆弯晶基底的弧长为 125.64mm,谱线的探测角为 55.4°~134.0°,从靶到谱线探测器的光程为 1456.3mm。如果用 X 射线胶片相机进行空间分辨测量,由于半圆形胶片相机的圆心与椭圆的后焦点重合,所以该谱仪还具有等光程的优点[9]。一张 X 射线胶片在暗盒中用挡光板隔开分成三部分,每打一发靶就移动一次通光孔,这样在不换胶片的情况下,可以接收三发靶的谱线。根据几何光学的原理,来自前焦点的 X 射线经椭圆弯晶衍射后一定会聚于后焦点,因此该谱仪具有自聚焦的特点。另外,还将两个弯晶基底进行上下对称布置来减小谱仪的尺寸和重量。

  2 X 射线的Bragg 衍射原理

  弯晶谱仪采用LiF,PET,Mica 和 KAP 四种晶体作分光元件,当X 射线入射到晶体上时,晶体点阵中的原子(或离子)就成为子波的波源,向各个方向发出散射波,两列散射波经相互干涉后发生衍射。根据 Bragg 衍射原理[10],得到衍射明条纹的条件是

式中d 是晶面间距,θ 是 Bragg 衍射角,m 是衍射级数,λ是X 射线的波长。在弯晶谱仪的设计中,使用一级衍射明条纹,即m=1,则式(1)变成

弯晶谱仪覆盖的Bragg 角是30°~67.5°,利用公式(2)可以计算出四种晶体测量的 X 射线波长范围,如表1。

  3 物理实验及波长标定

  3.1 物理实验

  在上海“神光Ⅱ”激光装置上进行了首次打靶实验。聚焦波长为0.35μm, 能量为 260J、脉宽为 960ps 的三倍频激光束于真空靶室内的点背光 Au 靶表面,产生等离子体 X 射线源。用粘贴有 PET 晶体的椭圆分析器作色散元件,采用 X 射线 CCD 相机进行空间分辨测量,该 CCD 相机为 1340 像素×1300 像素的二维接收器件,每个像素的大小为20μm×20μm。由 X 射线 CCD 相机摄取的光谱照片如图2。

  3.2 波长标定

  对图2 进行数据处理,得到 X 射线的谱线图,如图3。由CCD 相机摄取的光谱图反映的是强度与像素之间的关系,经过波长标定得到谱线的波长,如表2。从表2可以看出,该谱仪能够将0.6454nm和0.6474nm的两条谱线分开,表明其谱分辨力能达到 0.002nm。

  结束语

  我们研制的弯晶谱仪是一种新型的能够同时进行X射线空间和时间分别测量的诊断仪器。利用PET 椭圆晶体分析器和 X 射线CCD 相机首次成功地获取了激光等离子体 X 射线的图像,实验结果表明该谱仪的谱分辨力能达到0.002nm;如果换用不同的椭圆晶体分析器,就可以诊断不同的波长范围。谱仪安装在靶室外面,条纹相机的阴极面距离靶心太远,由于真空梯度的存在,当靶室内的真空度已达到3×10-3Pa 时,而阴极面的真空度只有9.6×10-2Pa,为防止条纹相机的阴极面被烧坏,所以没有进行时间分辨测量。

  参考文献:

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  [10] 王英华. X 光衍射技术基础. 第二版[M]. 北京:原子能出版社,1993.

  作者简介:熊先才(1973-),男(汉族),重庆人,博士生,主要从事光电精密仪器研究。E-mail: xiongxc@cqu.edu.cn


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