爱德万测试(Advantest)宣布发表专为新一代记忆积体电路(IC)所设计的最新测试解决方案，以满足行动装置与伺服器市场对新一代记忆IC的强劲需求。此套最新测试解决方案T5503HS延续广为业界采用的T5503架构并加以改进，提供高速平行同测、完整相容性，并加入可升级设计，创造业界最佳性能，实现高产能低测试成本效益。

　　爱德万测试记忆体测试事业执行副总裁山田弘益表示，这套新测试系统是一套最能满足新一代DDR4-SDRAM与LPDDR4-SDRAM记忆体测试需求的解决方案，因为T5503HS可提供最高测试效率，让客户获得最大资本投资回报。

　　随着可上网功能的行动装置与相关支援伺服器在资料处理量不断激增之下，高速高容量记忆晶片制造商亟需具成本竞争力的测试解决方案加速推出新兴DDR4-SDRAM与LPDDR4-SDRAM记忆体等新产品上市。爱德万测试全新T5503HS系统可提供符合记忆体制造商需求之功能，同时降低测试成本。

　　T5503HS测试速度最高可达4.5Gbit/s，此速度足以因应现今最高阶双倍资料传输速度记忆体最高4.266Gbit/s运作频率。T5503HS藉由Cyclic Redundancy Check与CA parity codes，比对输入/输出(I/O)资料传输率与待测装置位址，确保达到最高测试速度，且简化新测试程式的开发流程，减少工作负担，缩短新半导体设计上市时程。

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